题目内容 (请给出正确答案)
[主观]

千分尺校对用的量杆,其两端平工作面的平行度符合要求,而长度尺寸超过了要求时,可按实际尺寸使用,其实际尺寸是()。

A、一面上各点中的一点至另一面的最大垂直距离(即最大尺寸)

B、一面上各点中的一点至别一面的最小垂直距离(即最小尺寸)

C、一面上的中心点至另一面的垂直距离(即中心长度)

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第1题
测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度只能用平行平晶进行检定,才能满足要求。()

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第2题
千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。
A、四块
B、一块
C、二块

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第3题
使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。

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第4题
用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。
A、一块
B、二块
C、三块

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第5题
高度游标卡尺测量爪尺寸用()检定,其测量面的平行度,可用分度值为()的测微计进行检定。

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第6题
若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。
A、用刀口尺以光隙法检定
B、用平晶的技术光波干涉法检定
C、用刀口尺以量块比较法检定

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第7题
在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。
A、0.001mm
B、0.002mm
C、0.003mm

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第8题
千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。

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第9题
用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。
A、0.9μm
B、0
C、1.8μm

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第10题
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。
A、球面干涉
B、等倾干涉
C、等厚干涉

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