用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（)。
A、球面干涉
B、等倾干涉
C、等厚干涉
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第1题

若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（)。
A、用刀口尺以光隙法检定
B、用平晶的技术光波干涉法检定
C、用刀口尺以量块比较法检定

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第2题

在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（)。
A、0.001mm
B、0.002mm
C、0.003mm

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第3题

千分尺的平面度是用（)平面平晶进行检定的,它是根据（)原理,利用光波干涉法进行的。

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第4题

用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（)。
A、球面干涉
B、等厚干涉
C、等倾干涉

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第5题

用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔的干涉条纹，则其平面度为（)。
A、0.9μm
B、0
C、1.8μm

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第6题

用平行平晶来检定杠杆式卡规，两测量面的平行度，检定所需平晶数的（)。
A、一块
B、二块
C、三块

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第7题

若用平晶检测被测件，测量面上的干涉条纹为园形时，其测量面的凹凸情况可以这样进行判定：在平晶中央加压，若干涉条纹向内跑，则说明测量面中间是（)。
A、平
B、凸
C、凹

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第8题

测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度只能用平行平晶进行检定，才能满足要求。（)

是

否

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第9题

不论哪种量具,凡有平工作面的,均有平面度要求,那么平面度是指包容（)且距离为最小的（)之间的距离。

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第10题

用光波干涉法测量表面粗糙度,是将工件表面的微观几何形状轮廓用（)的曲折程表示出来,并以（)进行度量的一种方法。

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用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（)。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉请帮忙给出正确答案和分析，谢谢！