题目内容 (请给出正确答案)
[多选]

DR成像设备类型包括()

A、非晶硒平板型探测器

B、非晶硅平板探测器型

C、IP成像方式

D、多丝正比室扫描投影DR

E、CCD摄像机型DR

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第1题
DR成像,直接转换方式使用的探测器是()

A、 成像板

B、 闪烁体+CCD摄像机阵列

C、 非晶硅平板探测器

D、 非晶硒平板探测器

E、 硫氧化钆平板探测器

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第2题
(题干)透过被照体的X线照射到平板探测器的非晶硒层时,由于非晶硒的导电特性被激发出电子-空穴对,
(题干)透过被照体的X线照射到平板探测器的非晶硒层时,由于非晶硒的导电特性被激发出电子-空穴对,即一对正负电子。该电子-空穴对在外加偏置电压形成的电场作用下被分离并反向运动,负电子跑向偏压的正极,正电子跑向偏压的负极,于是形成电流。电流的大小与入射X线光子的数量成正比,这些电流信号被存储在TFT的极间电容上。每个TFT形成一个采集图像的最小单元,即像素。每个像素区内有一个场效应管,在读出该像素单元电信号时起开关作用。在读出控制信号的控制下,开关导通,把存储于电容内的像素信号逐一按顺序读出、放大,送到A/D转换器,从而将对应的像素电荷转化为数字化图像信号。 关于该平板探测器的叙述,错误的是A.属于直接转换
B.属于间接转换
C.成像效果好于IP
D.数据转换不经过可见光
E.需要高压电场
场效应管的作用是A.产生电荷
B.存储电荷
C.开关
D.A/D转换
E.放大

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第3题
CT成像设备中,探测器的几何效率是指()
A.探测器有效宽度
B.探测器有效宽度+无效空间
C.探测器有效宽度÷(探测器有效宽度+无效空间)
D.探测器有效宽度×(探测器有效宽度+无效空间)

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第4题
CT成像设备中,选用下面哪种材料做为探测器,一般不用附加散射线准直器()

A、 NaI

B、 CaI

C、 CsF2

D、 惰性气体

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第5题
CT成像设备中,探测器的总检测效率是指()

A、几何效率

B、吸收效率

C、几何效率/吸收效率

D、几何效率×吸收效率

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第6题
CT成像设备中,闪烁探测器内完成闪烁晶体产生的信号到光电倍增管传送的是()

A、光纤

B、铜导线

C、磁性材料

D、空气

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第7题
CT成像设备中,闪烁探测器内的闪烁晶体是()
A. NaI
B. CaO
C. CaCO3
D. NaCl

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第8题
CT成像设备中,探测器的总检测效率是指()
A.几何效率
B.吸收效率
C.几何效率/吸收效率
D.几何效率×吸收率

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第9题
相对于CR,DR的优势()

A、成像时间短

B、X线利用率高

C、图像质量好

D、辐射剂量低

E、获取数字化图像

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第10题
在DR检查时因X线曝光不足引起的图像噪声称为()

A、暗噪声

B、电子噪声

C、量子噪声

D、热噪声

E、探测器结构噪声

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